一种CLCC寿命预测与故障风险分析方法、系统、设备及介质

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一种CLCC寿命预测与故障风险分析方法、系统、设备及介质
申请号:CN202411526113
申请日期:2024-10-30
公开号:CN119046517B
公开日期:2025-04-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种CLCC寿命预测与故障风险分析方法、系统、设备及介质,其中所述的方法包括:构建CLCC寿命预测与故障风险分析模型;构建CLCC仿真系统,模拟CLCC正常工况与故障工况重复进行多次寿命测试试验,并获取训练数据集;训练CLCC寿命预测与故障风险分析模型;利用训练好的CLCC寿命预测与故障风险分析模型进行寿命预测值和故障风险分析;所述的系统用于实现上述的方法,包括数据采集和处理模块、计算模块和寿命预测和故障风险分析模块。与现有技术相比,本发明将模型的决策过程可视化,直观展示了在进行寿命预测和故障风险分析的过程并帮助识别影响CLCC元件寿命的关键故障类型,且该方法采用改进神经网络模型使其在面对复杂工况也具备良好的处理性能。
技术关键词
故障风险分析方法 传感器特征 寿命 数据 故障风险分析系统 可视化模块 元件 故障工况 编码器 分支 解码器 高故障风险 仿真系统 多头注意力机制 分析模块 多尺度特征 神经网络模型 决策
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