一种基于改进ICP的T形轴支架底座点云配准方法

本发明公开了一种基于改进ICP的T形轴支架底座点云配准方法，属于机器人工业应用的技术领域，该方法包括以下步骤：S1：通过Voxel Grid滤波对分割出的零件源点云和目标点云进行预处理，得到降采样的点云；S2：计算降采样后的零件源点云和目标点云的SHOT特征；S3：基于SHOT特征提取源点云与目标点云中对应的特征点对，使用SAC‑IA算法对源点云与目标点云进行配准，得到粗配准结果；S4：基于粗配准的结果，使用GICP精配准算法进一步进行配准，求解最优的变换矩阵，并使用最优的变换矩阵更新源点云的位置。本发明能够解决现有ICP算法存在的对点云初始位置要求高和收敛速度慢的缺点。