生成系统性能缺陷解决方案的方法、装置与电子设备

本申请提供了一种生成系统性能缺陷解决方案的方法、装置与电子设备。方法包括：获取被测试系统的性能测试数据，对性能测试数据进行标签化处理，生成被测试系统的多种缺陷标签，确定各种缺陷标签的缺陷等级以及出现频次，根据缺陷标签的缺陷等级以及出现频次确定各种缺陷标签的缺陷权重；根据各种缺陷标签以及与各种缺陷标签对应的缺陷权重反向索引至历史经验库，生成被测试系统的缺陷解决方案集。通过对被测试系统的性能测试数据进行标签化处理，根据生成的标签反向索引至历史经验库，来确定被测试系统的缺陷解决方案，解决了现有技术的业务系统缺陷解决过程中依赖于开发人员和性能测试人员的专业能力和对系统的熟练程度，导致耗时耗力的问题。