激光芯片老化测试设备

本发明公开一种激光芯片老化测试设备，其包括若干老化测试装置、中转组件及传输装置，若干所述老化测试装置上下排列为多行，每一行左右间隔排列有多个老化测试装置，每一老化测试装置包括用于间隔排列激光芯片的老化底座，所述中转组件与所述老化测试装置上下错开，并且包括水平台、老化载台、老化机械手及驱动组件，所述驱动组件配置为驱动所述水平台上下运动及所述老化载台与所述老化机械手相对所述水平台左右移动，所述老化机械手从所述老化载台移送激光芯片至所述老化底座，所述传输装置配置为将激光芯片移送至所述老化载台，并在所述激光芯片在所述老化测试装置中完成老化测试后负责出料，不仅显著提升了设备的自动化水平，简化了操作流程，有效降低了人工成本，还极大提高了测试效率与精确度。