基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统及方法

基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统及方法，属于绝缘子检测技术领域，本发明通过多维度数据采集，实现了对影响绝缘子污秽状态因素的全面考量，在权重计算方面，针对温湿度数据，采用先进的模糊聚类分析和支持向量回归模型，精准地量化了其对污秽程度的影响，能适应复杂的环境变化，对于地理位置权重，综合考虑了与污染源的距离、地形地貌及水流等因素，使评估结果更符合实际情况，绝缘子材质权重的计算运用层次结构和模糊判断矩阵，科学地衡量了不同材质的关键性能对污秽状态的影响，能准确评估绝缘子的污秽程度，为清洗或更换决策提供可靠依据，有效保障电力系统的安全稳定运行。