一种集成电路芯片的测试电路和装置

本发明提供一种集成电路芯片的测试电路和装置，包括控制器输出幅值变化的电平信号和测试指令，DC/DC降压电路连接控制器，基于稳定的参考电压和幅值变化的电平信号输出预设范围的电压信号，并连接至待测集成电路芯片的电源正极，恒压基准电路连接待测集成电路芯片的电源负极，将待测集成电路芯片的电源负极抬高至基准电压，双向电平转换电路实现控制器和待测集成电路芯片的通信；该测试电路通过控制器和DC/DC降压电路输出变化的电压，恒压基准电路抬高集成电路芯片的负极电压，可以使得待测集成电路芯片的输入电压在工作电压的范围内，并通过双向电平转换电路实现信号通信，进而实现集成电路芯片的性能测试，体积小，使用灵活方便。