一种可完全重配置的JESD204B接口ADC测试装置及测试方法

本发明涉及高速数据采集、芯片测试技术等领域，公开了一种可完全重配置的JESD204B接口ADC测试装置及测试方法，测试装置能够与上位机及信号源相配合进行JESD204B接口ADC测试，包括FPGA母板、带芯片测试夹具的FMC子卡、开关矩阵电路、集成至FPGA母板或FMC子卡上或独立存在的JESD204B时钟生成电路；FPGA母板上设置有XilinxFPGA、与XilinxFPGA连接的DDR4内存、以太网PHY及网络接口和GPIO与供电接口A；FPGA母板与FMC子卡通过FMC接口可拆卸连接；开关矩阵电路上的GPIO与供电接口和FPGA母板上的GPIO与供电接口A通过线缆连接；针对已有方案的缺陷，最大程度的通用化了JESD204B接口ADC器件配置、数据采集FPGA测试驱动程序及后端应用层数据映射的设计。