基于内嵌式逻辑分析的DRAM测试机台、方法

本发明提供一种基于内嵌式逻辑分析的DRAM测试机台、方法，在ATE测试控制芯片中集成有内嵌式逻辑分析仪，将内嵌式逻辑分析仪集成在具有主控单元、测试向量产生器、测试结果处理器的ATE测试控制芯片中，克服了现有技术中的缺陷，能够实时捕捉和分析DRAM芯片的信号，帮助测试工程师快速发现问题，提高测试效率，同时监测多个信号通道，提高深入分析能力，能够设置特定的触发条件来捕获关键数据，并对各种DRAM复杂的时序行为进行解码和分析，节省测试时间，并且紧凑集成，不占用额外的空间，降低成本提高效益，能够快速提供测试结果和反馈，有助于缩短DRAM芯片的测试时间，加快测试进度。