DDR4芯片测试方法、电子设备、存储介质

本发明公开了一种DDR4芯片测试方法、电子设备、存储介质，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：移动机构驱动每个机械臂抓取两个待测的DDR4芯片，并移动至压合装置的上方；移动机构驱动每个机械臂下降，使机械臂下压压合片的一侧，使压合片的另一侧上抬后，机械臂将DDR4芯片放置在安装腔室内；移动机构驱动每个机械臂上升，使机械臂释放压合片的一侧，压合片的另一侧下压，固定住DDR4芯片，使DDR4芯片与导电柱连接；测试母板驱动测试子板对DDR4芯片进行测试，获得测试结果；测试母板通过通信板将测试结果发送至上位机。根据本发明实施例的方法，使得DDR4芯片的安装与拆卸更加便捷，并能够提升测试效率。