一种基于稀疏重构算法的太赫兹涂层检测方法及系统

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一种基于稀疏重构算法的太赫兹涂层检测方法及系统
申请号:CN202411549820
申请日期:2024-11-01
公开号:CN119354072B
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本发明设计一种基于稀疏重构算法的太赫兹涂层检测方法及系统,首先使用稀疏表示算法分解反射的太赫兹时域光谱,可将混叠的反射信号有效区分;然后通过重构算法处理分解得到的稀疏解,可自动、精确地定位反射信号的幅度和时间间隔;最后,利用菲涅尔公式和反射模型计算出材料的折射率,进而根据折射率和反射峰的时间间隔计算出热胀涂层的几何厚度。
技术关键词
涂层检测方法 稀疏重构算法 涂层材料 时域光谱仪 字典 时域光谱系统 矩阵 信号获取模块 脉冲 正则化参数 时间差 信息模块 序列 基础 关系
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