缺陷检测模型训练方法、装置、设备及存储介质

本申请涉及一种缺陷检测模型训练方法、装置、设备及存储介质。方法包括：获取PCB缺陷样本训练集和预设问题文本；PCB缺陷样本训练集包括多张PCB缺陷样本图像，每张PCB缺陷样本图像包括图像描述和缺陷描述；预设问题文本基于图像描述和缺陷描述中至少一种所确定；将PCB缺陷样本图像和对应的预设问题文本输入初始检测模型进行处理，输出预设问题文本对应的预测答案；根据预测答案和标准答案之间的差异确定训练损失，并基于训练损失对初始检测模型进行训练，得到缺陷检测模型。采用本申请，能够实现提高模型的泛化能力。