一种提高单晶硅透镜折射率均匀性的高温处理系统

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一种提高单晶硅透镜折射率均匀性的高温处理系统
申请号:CN202411559420
申请日期:2024-11-04
公开号:CN119433719A
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种提高单晶硅透镜折射率均匀性的高温处理系统,涉及精密光学制造与材料科学领域,包括,收集单晶硅透镜的几何形状、材料特性以及历史数据,同时采集单晶硅透镜的实时温度数据,并对所有数据进行预处理,基于预处理后的单晶硅透镜实时温度数据和历史数据,建立热分布预测模型,输出初步的热分布预测结果,根据热分布预测结果控制加热高温处理腔内的多区加热器,并且向高温处理腔内注入惰性气体,完成对单晶硅透镜的温度控制和环境配置,基于设计要求和历史数据设置目标单晶硅透镜目标折射率,本发明根据实际情况精确预测可能的过热或过冷区域,提供优化的加热功率分布依据,避免了局部热应力集中,显著提高透镜的折射率均匀性。
技术关键词
单晶硅 多区加热器 激光干涉仪 高温处理过程 傅里叶变换算法 功率 误差反向传播 实时数据 报告 热传导方程 应力 气氛控制 精密光学 透镜材料 流量控制器 模块
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