一种检测RSA密码芯片共享素数因子安全缺陷的方法

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一种检测RSA密码芯片共享素数因子安全缺陷的方法
申请号:CN202411564997
申请日期:2024-11-05
公开号:CN119382893A
公开日期:2025-01-28
类型:发明专利
摘要
本发明提出了一种用于检测RSA密码芯片中存在共享素数因子安全缺陷的方法。该方法特别适用于处理大量使用RSA公钥的密码芯片,能够有效且高效地识别和定位这些芯片中的RSA公钥可能共享的素数因子,以提高芯片的安全性。通过从数字证书中提取公钥模数n,将所有公钥的n值进行累乘以获得乘积项M,进一步通过对M进行模运算生成余数项序列,以及通过余数与公钥n的除法运算得到除数项序列,最后计算除数项序列中每项与其对应公钥n的最大公约数(GCD),以实现了高效检测并标识存在共享素数因子的不安全公钥。本发明的实施可以显著降低计算复杂度,从而在大规模芯片生产和测试环境中快速且准确地进行安全性评估和缺陷检测。
技术关键词
密码芯片 模数 序列 大整数乘法运算 公钥 因子 数字证书 模运算 格式 复杂度 元素 标识
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