一种用于芯片测试的自动测试装置

本发明涉及芯片测试技术领域，主要涉及一种用于芯片测试的自动测试装置，包括输送轨道，输送轨道上滑动安装有移动座，移动座的顶部固定有用于芯片摆放的摆放板；以及固定在移动座上的驱动单元，驱动单元与输送轨道相接触，以及安装于摆放板上的相抵柱，摆放板的一侧开设有移动腔，移动腔内安装有相抵组件，摆放板上安装有用于芯片定位的对齐组件，本发明通过设计的相抵组件与对齐组件，能够对摆放板上的芯片进行定位，在通过驱动单元在输送轨道上移动时，将芯片输送至检测部前，会跟接触部接触，从而对芯片进行模拟振动，将部分焊接不牢固区域断裂，避免低质量芯片流入市场，提高对芯片的检测精准度。