一种元件缺陷检测方法

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一种元件缺陷检测方法
申请号:CN202411570979
申请日期:2024-11-05
公开号:CN119722570A
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种元件缺陷检测方法,应用于计算机视觉领域,用于提高元件缺陷检测的准确性。本申请通过目标检测算法确定实测图像中的各个元件对应的第一区域子图像;基于预先训练完成的特征提取模型对各个第一区域子图像进行特征提取,确定所述各个元件对应的第一特征向量;获取预先确定的目标元件对应的各个替代元件对应的第二特征向量;分别确定各个第一特征向量与各个第二特征向量的第一相似度;将最大的第一相似度对应的元件确定为所述目标元件对应的待检测元件;基于所述待检测元件对应的第一区域子图像进行元件缺陷检测,提高了元件缺陷检测的准确性。
技术关键词
检测元件 特征提取模型 元件缺陷检测方法 图像 元件缺陷检测系统 字符识别模型 页面 样本 指令 标识 坐标 计算机视觉 信息验证 算法 标签 尺寸 参数
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