一种回转体零件测量系统的测量方法

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正文
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一种回转体零件测量系统的测量方法
申请号:CN202411574078
申请日期:2024-11-06
公开号:CN119085494B
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及回转体零件测量的技术领域,具体涉及一种回转体零件测量系统的测量方法。本发明的技术方案在测量装置沿回转体零件径向发射的径向测距激光与零件轴线存在垂直偏差时,通过测量装置对回转体零件的等径段进行径向旋转测距,以获得等径段的径向周测数据;根据径向周测数据所表征的椭圆轮廓对回转体零件进行校准,以使径向测距激光垂直于零件轴线,使回转体零件完成校准;测量装置还用于根据预设的轴向步距对完成校准的回转体零件的变径段进行多点径向测距,以获得变径段沿轴向的变径数据集;以及根据变径数据集所表征的轴向变径轮廓,确定变径段的测量结果,该技术方案兼顾了回转体零件上变径段的测量效率和准确性。
技术关键词
回转体零件 测距仪 校准装置 测量方法 轮廓 激光 旋转平台 半轴 机械臂 偏差 方程 数据 曲线 立柱 控制器 密度 坐标系
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