一种半导体芯片的测试方法、装置、设备及介质

本发明公开了一种半导体芯片的测试方法、装置、设备及介质，涉及电子数字数据处理技术领域。首先对半导体芯片的测试流程进行划分，分为内存测试阶段和性能测试阶段，可以更精确地评估半导体芯片的内存能力和性能特征，然后对半导体芯片的内存测试阶段进行分析，得到各半导体芯片的内存质量表征值，有助于更准确地评估半导体芯片内存的稳定性和可靠性，可以帮助制造商和供应商在生产过程中进行质量控制，随后对半导体芯片的性能测试阶段进行分析，得到各半导体芯片的性能表征值，可以为半导体芯片性能设计提供数据支持，最后根据各半导体芯片的质量指标值对各半导体芯片进行标注，可以进行更精准的资源分配置，避免半导体芯片的资源浪费。