基于改进遗传算法的存储器测试算法的优化方法及装置

本发明提供一种基于改进遗传算法的存储器测试算法的优化方法及装置，方法包括：从存储器测试算法的待优化搜索前进结果，选取出特定搜索前进元素，作为第一蒙特卡洛搜索树的根节点；并根据根节点选择子节点进行扩展，对扩展得到的节点集合进行模拟，得到故障覆盖率；将故障覆盖率作为奖励值在第一蒙特卡洛搜索树反向传播，得到第二蒙特卡洛搜索树，并选取候选节点得到待遗传测试序列作为初始种群，根据适应度从初始种群中遗传得到后代序列，在未满足遗传算法终止准则时，调用禁忌搜索算法对后代序列进行搜索，得到优化后搜索前进结果。通过本申请，解决现有技术中针对存储器测试算法进行改进，但故障覆盖率和测试效果仍然有待提升的技术问题。