定位物件的方法和检测发光二极管芯片亮度的方法及设备

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定位物件的方法和检测发光二极管芯片亮度的方法及设备
申请号:CN202411581995
申请日期:2024-11-07
公开号:CN120368838A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种在物件阵列中定位物件的方法,其特征在于,包括:(a)在所述物件阵列中,选定两个相邻的物件,其中所述两个相邻的物件有一个间距,所述间距至少可容纳所述两个相邻的物件;(b)以上述两个相邻物件的间距定义检测框;(c)计算得到所述检测框的中心点;以及(d)移动所述检测框,直至所述检测框的中心点碰触上述两个相邻物件中的物件,以定位所述被碰触的物件。本发明的在物件阵列中定位物件的方法适合用于检测发光二极管(LED)芯片亮度。本发明的方案藉由移动所述检测框,直至所述检测框的中心点碰触上述两个相邻物件中的物件,可使检测框的位置贴近物件的实际位置,藉此精准地定义物件的位置。
技术关键词
影像撷取机构 阵列 承载平台 检测发光二极管 亮度 薄膜晶体管基板 发光二极管芯片 间距 定义 处理单元 控制单元 计算机 摄像机 程序
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