一种量化芯片测试管理方法、装置以及存储介质

本发明涉及芯片数据处理技术领域，具体公开一种量化芯片测试管理方法、装置以及存储介质，该方法通过监测并记录测试芯片的内部关键动态变化参数，以此量化评估测试芯片的内部波动指数，并筛选出性能稳定的芯片并进行后续封装处理，可减少芯片的售后维修和更换的需求，以提高芯片使用可靠性，获取预审芯片封装处理过程的封装参数，由此分析预审芯片的封装稳定指数，为优化芯片的封装工艺提供数据依据，最后获取终检芯片的工作参数，判定终检芯片的工作干扰指数，有助于识别芯片在工作过程中遇到的问题，为改进芯片设计提供方向，由此对终检芯片测试进行管理反馈，以完成对芯片的多维度测试管理过程。