IGBT模块温度异常识别方法及装置

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IGBT模块温度异常识别方法及装置
申请号:CN202411602208
申请日期:2024-11-11
公开号:CN119441916A
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种IGBT模块温度异常识别方法及装置,该IGBT模块温度异常识别方法包括:获取温度的时间序列并进行归一化,形成原始数据集;基于原始数据集进行时序预测,获得每个时刻的预测值,并计算预测值与原始数据集中的原始值的残差项,形成残差数据集;根据每个残差项的K‑最近邻点集合和预设权重函数确定每个残差项的加权平均距离;根据最小点数的预设取值范围,通过计算聚类评价指标的最小值确定最佳最小点数;基于加权平均距离和最佳最小点数,对残差数据集进行聚类分析,并根据聚类分析的结果识别异常温度。本申请实施例无需人工设定固定阈值,能够自适应不同环境和工况下的温度变化,具有更好的灵活性。
技术关键词
残差数据 异常识别方法 IGBT模块 指数平滑模型 计算机可读指令 聚类 时序 可读存储介质 残差模块 处理器 指标 序列 密度 异常状态 识别装置 识别模块 存储器 电子设备
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