基于纹理分析的组织评估方法、超声检测设备及存储介质

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基于纹理分析的组织评估方法、超声检测设备及存储介质
申请号:CN202411606083
申请日期:2024-11-11
公开号:CN119693299A
公开日期:2025-03-25
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种基于纹理分析的组织状态评估方法、超声检测设备及存储介质,该方法包括:获取待测区域的第一超声图像、掩膜数据;将第一超声图像分割为多个图像块;根据每个图像块中每个像素点的灰度信息,得到各图像块对应纹理参数的参数值;根据多个图像块对应纹理参数的参数值对多个图像块进行拼接处理,得到拼接图像;根据掩膜数据和拼接图像中像素点对应纹理参数的参数值,得到目标组织对应纹理参数的参数值;基于组织状态评估模型,根据目标组织对应纹理参数的参数值,得到组织状态评估指标的第一指标值;根据组织状态评估指标的第一指标值,得到目标组织的状态评估结果。
技术关键词
纹理 掩膜数据 组织 图像块 超声检测设备 超声图像分割 像素点 参数 状态评估方法 训练样本集 指标 存储计算机程序 处理器 可读存储介质 存储器 对比度 标识
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