无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法

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无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法
申请号:CN202411607409
申请日期:2024-11-12
公开号:CN119596014A
公开日期:2025-03-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法,先建立探头和被测天线的电磁模型,再建立基于单向传输方程的自由空间传播模型和测量系统的模型,然后建立包含探头、自由空间传播和被测天线的测量系统的电磁模型,推导出包含任意探头、自由空间传播和任意被测天线的测量系统的完整电磁模型,然后,确定探头、自由空间传播和被测天线的各散射矩阵,并从近场距离测量中,提取定天线阻抗和增益,本发明克服了传统探针和馈电线缆的泄露电流和散射效应等对芯片天线的影响,本发明可以很好地应用于馈线对被测天线有较大影响的场景,大大提高了该类天线的测量精度。
技术关键词
增益测量方法 芯片天线 坐标系 无线缆 电磁 方程 探头结构 球面 参数 多端口 关系 级联 基准面 网络 模式
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