摘要
本发明一种薄膜均匀性修正挡板的制作方法,首先使用镀膜机在K9基片上蒸镀适量的膜料,完成后使用检测仪器检测基片的反射率,后将反射率转换为膜厚。不同位置的基片,会转换出不同的膜厚值。其次,建立空间直角坐标系,描述膜料蒸发源位置、基片位置及运动方式,修正挡板的摆放平面等数学因子。再次建立数学模型,计算出修正挡板的宽度,依据宽度完成修正挡板的制作,最终使得各个基片上的膜厚大致相同,保证了光学产品镀膜后的面形变化量满足技术要求。此方法可节省大量的人力、物力,与其他制作方法相比较,计算结果更为精确,实验次数更少,修正挡板的修正精度更高,工艺水平更为先进。
技术关键词
修正挡板
镀膜工装
空间直角坐标系
反射率曲线
镀膜机
薄膜
自转工件盘
检测基片
K9玻璃
分光光度计
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数学模型
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