一种透射电子显微图像处理、图像重构方法和装置

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一种透射电子显微图像处理、图像重构方法和装置
申请号:CN202411612061
申请日期:2024-11-11
公开号:CN119762397B
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种透射电子显微图像处理、图像重构方法和装置,涉及透射电子显微镜技术领域。该方法针对TEM的STEM模式下采集的图像集合,其可包括:在图像集合对应的采集时段内,设置一个或多个理论采集时间,其中,图像集合包括多张不同时间采集的图像;根据图像中的像素点对应的采集时间,查找与理论采集时间相邻的一张或两张目标图像;利用查找到的一张或两张目标图像上的像素点,生成对应于理论采集时间的图像。本发明实施例提供的方案能够调整TEM在STEM模式下拍摄到的自动旋转样品的图像的畸变,使重构出的三维结构能够比较真实的体现材料的微观结构。
技术关键词
像素点 理论 图像处理方法 图像生成单元 图像重构方法 样品台 透射电子显微镜技术 图像处理装置 校正 处理器 三维结构 存储装置 程序 模式 速率 电子设备
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