缺陷检测方法、装置、存储介质、计算机设备及检测设备

本申请公开了一种缺陷检测方法、装置、存储介质、计算机设备及检测设备，涉及产品表面质量检测技术领域，主要目的是消除外部干扰，从而实现产品外观缺陷的准确、高效且全面检测。本申请的主要技术方案为：该缺陷检测方法，包括：获取待检测对象的待检测图像；基于第一预设灰度阈值分割所述待检测图像，确定待检测区域；基于预设边缘范围去除所述待检测区域的边缘部分，确定所述待检测区域内部的目标检测区域，所述目标检测区域包括多个待处理区域；从所述目标检测区域中分别识别出每个所述待处理区域，基于目标运算类型以及多个所述待处理区域，得到与所述待检测对象对应的缺陷检测结果，所述目标运算类型包括缺陷面积占比运算以及缺陷密度运算。