算法评估方法、装置、电子设备及介质

本发明实施例提供了一种算法评估方法、装置、电子设备及介质，涉及计算机技术领域。该方法包括：利用待测试算法对指定数据集中的各数据样本进行处理，获得第一处理结果集；利用第一大模型对指定数据集进行处理，获得第二处理结果集；根据第二处理结果集与指定数据集中各数据样本的标签信息，确定第一漏检率和/或第一误检率；第一漏检率和/或第一误检率用于指示指定数据集的质量；根据第二处理结果集与第一处理结果集，确定第二漏检率和/或第二误检率；比对第一漏检率与第二漏检率，和/或，比对第一误检率与第二误检率，确定待测试算法的性能。该方法能够准确评估算法的性能，排除数据质量、数据标注等原因造成的评估误差。