一种8T-SRAM单元及该8T-SRAM单元的读出电路、运算电路及芯片

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一种8T-SRAM单元及该8T-SRAM单元的读出电路、运算电路及芯片
申请号:CN202411624663
申请日期:2024-11-14
公开号:CN119724289A
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种8T‑SRAM单元及该8T‑SRAM单元的读出电路、运算电路及芯片,包括晶体管P1、P2、N1、N2、N3、N4、N5、N6,P1、P2、N1、N2构成交叉耦合的两个反相器,两个反相器的输入分别作为存储节点Q和存储节点QB,所述第五晶体管N3的源极连接存储节点Q,漏极连接第六晶体管N4的漏极,栅极连接第一列字线WWLA,所述第六晶体管N4的栅极连接第二列字线WWLB,源极连接存储节点QB,所述第七晶体管N5的栅极连接存储节点QB,漏极连接第六晶体管N4的漏极,源极接地,所述第八晶体管N6的栅极连接行字线WL,源极连接第六晶体管N4的漏极,漏极连接位线RBL。本发明8T‑SRAM单元可以消除半选择破坏,本发明的读出电路可以让输出更稳定。
技术关键词
晶体管 SRAM单元 读出电路 栅极 SRAM芯片 运算电路 位线 反相器 节点 存储阵列 时序控制电路 存储单元阵列 地址译码器 时钟 电子组件 信号 电子装置 电源
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