摘要
本发明公开了一种8T‑SRAM单元及该8T‑SRAM单元的读出电路、运算电路及芯片,包括晶体管P1、P2、N1、N2、N3、N4、N5、N6,P1、P2、N1、N2构成交叉耦合的两个反相器,两个反相器的输入分别作为存储节点Q和存储节点QB,所述第五晶体管N3的源极连接存储节点Q,漏极连接第六晶体管N4的漏极,栅极连接第一列字线WWLA,所述第六晶体管N4的栅极连接第二列字线WWLB,源极连接存储节点QB,所述第七晶体管N5的栅极连接存储节点QB,漏极连接第六晶体管N4的漏极,源极接地,所述第八晶体管N6的栅极连接行字线WL,源极连接第六晶体管N4的漏极,漏极连接位线RBL。本发明8T‑SRAM单元可以消除半选择破坏,本发明的读出电路可以让输出更稳定。
技术关键词
晶体管
SRAM单元
读出电路
栅极
SRAM芯片
运算电路
位线
反相器
节点
存储阵列
时序控制电路
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