一种芯片的外设接口测试方法及相关设备

本公开提供一种芯片的外设接口测试方法及相关设备。该方法包括：响应于接收到上位机的第一指令，向所述外设接口的内存空间中写入第一数据量的数据；以及响应于接收到上位机的第二指令，读取所述内存空间中的所述数据并写入目标文件；其中，写入所述目标文件中的数据被丢弃；获取所述数据的读写时长；基于所述读写时长和所述第一数据量确定所述接口的传输速度。