一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质

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一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202411629089
申请日期:2024-11-15
公开号:CN119150768B
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质,涉及芯片技术领域,该方法包括:获取配置文件,配置文件包括待虚设模块的模块名称、复位信号信息和待虚设实例的层次结构,待虚设实例为实例化后的待虚设模块;利用模块名称,从待验证芯片的原始代码中,抽取待虚设模块的接口代码;利用接口代码、复位信号信息和层次结构,基于待虚设实例的输出波形,获取待虚设实例对应的输出接口信号的输出值;在接口代码中添加输出值,得到待虚设实例的虚设代码;利用虚设代码,对待验证芯片进行验证。应用本申请实施例提供的技术方案,可以提高ST层面的芯片验证速度,减小芯片验证周期,在ST层面快速发现和收敛问题。
技术关键词
波形 芯片验证方法 信号 模块 电平 芯片验证装置 文本 通信接口 电子设备 可读存储介质 存储器 处理器 计算机 周期 程序 速度
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