星载SIP器件的寿命评估方法和设备

本发明提供一种星载SIP器件的寿命评估方法和设备，确定星载SIP器件中用于评估寿命的各关键结构；基于各所述关键结构的使用环境应力和失效机理，建立各所述关键结构对应的失效物理模型；基于蒙特卡洛法，对各所述关键结构的几何尺寸参数进行抽样，得到各所述关键结构的参数样本；将各所述参数样本代入到对应的失效物理模型中，得到各所述关键结构对应的寿命数据；基于各所述寿命数据，拟合得到各所述关键结构的寿命概率密度函数；基于各所述寿命概率密度函数，得到各所述关键结构的寿命；基于各所述关键结构的寿命评估所述星载SIP器件的寿命，实现了基于竞争失效理论的星载SIP器件的可靠性评估。