基于TTL协议的集成电路自动化测试系统及方法

本发明关于基于TTL协议的集成电路自动化测试系统及方法，涉及集成电路测试技术领域。该系统包括接口模块、电源模块、待测芯片连接模块、测试选择模块以及显示模块；接口模块用于基于TTL协议连接至计算机设备；电源模块用于供电；待测芯片连接模块用于配置待测芯片；测试选择模块用于选择温度测试模式；显示模块用于显示测试结果。通过接口模块与计算机设备的连接，并配置测试需求，设置对应的待测芯片连接模块、测试选择模块以及显示模块，提高了集成电路测试的灵活性，满足多种集成电路测试的需求。