自动校准方法和自动校准系统

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自动校准方法和自动校准系统
申请号:CN202411634224
申请日期:2024-11-15
公开号:CN120068570A
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
公开了自动校准方法和自动校准系统。根据至少一个实例实施例的自动校准方法可包括:接收至少一个内部方程、与半导体装置设计相关联的输入数据和与半导体装置设计相关联的硬件数据;基于所述输入数据和所述硬件数据来生成至少一个近似函数;基于生成的所述至少一个近似函数来确定至少一个损失函数;确定所述至少一个近似函数的至少一个参数和所述至少一个内部方程的至少一个参数,使得所述至少一个损失函数的值为0;以及基于确定的所述至少一个近似函数的至少一个参数和所述至少一个内部方程的至少一个参数来选择性地调整半导体装置设计。
技术关键词
自动校准方法 自动校准系统 半导体装置 方程 参数 计算机可读指令 梯度下降算法 非暂时性存储介质 数据 电路 深度学习网络 可读存储介质
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