基于泰勒级数逼近的温控器校准方法及系统

本申请提供了一种基于泰勒级数逼近的温控器校准方法，应用于芯片的测试分选机，温控器校准方法包括：控制温控器根据预设的多个不同的初始温度依次输出调控参数；获取样本数据；通过泰勒级数对样本数据进行非线性逼近得到温度校准函数；根据期望的温度和温度校准函数，校准温控器输出的调控参数。此外，本申请还提供了一种基于泰勒级数逼近的温控器校准系统。本申请通过控制温控器依次输出不同调控参数来相应获取初始温度和温控载具的初始加热温度，减少了人工操作和误差引入；通过泰勒级数进行非线性逼近来获取温度校准函数，精确描述温控器的非线性特性，进而应用于测试分选机中不同温控器的温度校准，增强了系统的通用性和灵活性。