适用于FPGA类器件功能性能的通用验证系统、装置、方法

本发明公开了适用于FPGA类器件功能性能的通用验证系统、装置、方法，涉及FPGA类器件测试技术领域，包括验证硬件、验证软件、验证辅助仪器、环境设备，具体验证步骤：步骤一：片内逻辑功能验证；步骤二：常用接口功能验证；步骤三：软硬件适应性功能验证；步骤四：综合性能功能验证；步骤五：动态功耗测试；步骤六：常用IP功能验证；步骤七：关联参数测试；步骤八：系统适应性；步骤九：环境适应性。该通用验证系统，适用于串行接口功能、多路IO兼容性测试功能、开发软件平台适应性、仿真器适应性、配置方式、配置启动时间、信号处理功能以及官方IP支持性等验证，对高速接口协议、Aurora协议、DDR协议、IIC协议、SPI协议等功能。