基于双探测器差分扫描的X射线姿态确定方法及系统

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基于双探测器差分扫描的X射线姿态确定方法及系统
申请号:CN202510992103
申请日期:2025-07-18
公开号:CN120890481A
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于双探测器差分扫描的X射线姿态确定方法及系统,旨在解决现有X射线姿态测量方法地面验证手段不足、模型与信号失配及精度评估不完善等的问题。通过构建集成X射线源、差分探测模块、电控转台与可调高度装置的实验平台,模拟多种姿态参数组合下的扫描过程,获取双通道光子计数时间序列信号。利用差分响应模型联合非线性拟合,解算俯仰角、自转角速度等参数,并对估计结果进行误差统计分析与方法有效性评估。本发明实现俯仰角正负判别、高保真数据采集与闭环精度评估,提升了差分扫描定姿方法的工程可验证性和系统的鲁棒性。
技术关键词
X射线探测器 X射线源 扫描模块 可控高度 验证方法 数据采集模块 转台 参数 非线性优化算法 估计误差 对准X射线 信号 验证系统 相位拟合方法 可调高度装置 序列 准直装置 性能评估算法 数学模型
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