摘要
本发明公开一种基于双探测器差分扫描的X射线姿态确定方法及系统,旨在解决现有X射线姿态测量方法地面验证手段不足、模型与信号失配及精度评估不完善等的问题。通过构建集成X射线源、差分探测模块、电控转台与可调高度装置的实验平台,模拟多种姿态参数组合下的扫描过程,获取双通道光子计数时间序列信号。利用差分响应模型联合非线性拟合,解算俯仰角、自转角速度等参数,并对估计结果进行误差统计分析与方法有效性评估。本发明实现俯仰角正负判别、高保真数据采集与闭环精度评估,提升了差分扫描定姿方法的工程可验证性和系统的鲁棒性。
技术关键词
X射线探测器
X射线源
扫描模块
可控高度
验证方法
数据采集模块
转台
参数
非线性优化算法
估计误差
对准X射线
信号
验证系统
相位拟合方法
可调高度装置
序列
准直装置
性能评估算法
数学模型
系统为您推荐了相关专利信息
去条带方法
预训练模型
条纹
奇异值分解重构
图像处理
故障自愈
告警模块
机器学习模型训练
风险
历史运行数据
待测对象
芯片验证方法
芯片验证装置
信号特征
序列发生器