摘要
本发明公开了一种用于SerDes的TI‑ADC采样时间偏移失配的校准方法及存储介质,其包括:将每个子ADC量化得到的当前输出值分别与SerDes判决恢复出的前一拍数据做运算;以某个子ADC通道作为参考,得到其余子ADC采样时间相对于参考时间偏移的误差函数;采用LMS算法调节子ADC的采样时间以最小化误差函数,从而完成采样时间偏移失配的校准。该存储介质用来存储用来执行上述方法的计算机程序。本发明具有原理简单、操作简便、适用范围广、校准效果好和精度高等优点。
技术关键词
校准方法
LMS算法
最小化误差
误差函数
通道
时间偏移误差
采样时钟偏差
数据
模块
计算机
处理器
周期
精度
信号
系统为您推荐了相关专利信息
注意力模型
图像分析方法
卷积神经网络模型
计算机设备
计算机程序产品
图像检测模型
害虫图像
害虫检测方法
训练集
马赛克
轴承故障诊断方法
特征加权融合
故障诊断模型
多尺度
通道注意力机制