基于超像素统计特性的SAR图像暗区域识别方法

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基于超像素统计特性的SAR图像暗区域识别方法
申请号:CN202411656301
申请日期:2024-11-19
公开号:CN119600445A
公开日期:2025-03-11
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于超像素统计特性的SAR图像暗区域识别方法,该方法利用SAR系统平台采集目标区域的SAR图像,并对其进行同质区域分割再滤波重组得到超像素滤波后的SAR图像;之后,在该SAR图像中搜索最优双峰区域的边界范围,并截取出该边界范围内的块图像;将所述块图像分为暗区域和信号区域,并利用最大类间方差原理求取使得暗区域和信号区域的类间方差最大的灰度值,将该灰度值作为最优阈值,从而将超像素滤波后的SAR图像中小于该最优阈值的像素所组成的区域确定为暗区域。本发明通过超像素统计特性构造出双峰区域,并利用阈值分割算法确定出检索暗区域的最优阈值,进一步提高了SAR图像暗区域检测精度。
技术关键词
区域识别方法 像素点 图像 灰度矩阵 错位方式 像素块 滤波 类间方差 聚类 种子 标签 阈值分割算法 信号 直方图 索引 平台 回波 邻域 地面
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