车规级芯片的选型测试方法、装置、电子设备及存储介质

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车规级芯片的选型测试方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202411658848
申请日期:2024-11-19
公开号:CN119780662A
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种车规级芯片的选型测试方法、装置、电子设备及存储介质,其中,所述方法包括:建立车规级芯片数据库;获取汽车控制器的实时工作数据和工作参数要求;根据所述汽车控制器的实时工作数据确定所述汽车控制器的工作场景、关键参数和关键参数工作范围;根据所述汽车控制器的工作场景确定所述汽车控制器的工作参数的选型比重;根据所述汽车控制器的工作参数要求、关键参数、关键参数工作范围以及工作参数的选型比重,从所述车规级芯片数据库中确定出符合要求的芯片;对所述符合要求的芯片进行测试,得到目标芯片。本申请实施例的芯片选择测试能够适应不同车型及应用场景的需求,且减少人工干预,提高了选型效率及准确性。
技术关键词
汽车控制器 芯片 参数 场景 测试方法 数据 可读存储介质 电子设备 匹配误差 计算机 模式 存储器 车型 处理器 程序
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