一种探测器测试装置、系统及测试方法

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一种探测器测试装置、系统及测试方法
申请号:CN202411663141
申请日期:2024-11-20
公开号:CN119556024A
公开日期:2025-03-04
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种探测器测试装置、系统及测试方法,包括:箱体、阵列光源、两个灯板、两个调光控制模块和电源;箱体包括主体和上盖;上盖设置在主体上,以形成密闭环境;阵列光源和灯板设置在箱体内部,调光控制模块和电源设置在主体的外侧壁上;阵列光源包括上阵列光源和下阵列光源;上阵列光源固定设置在其中一个灯板上,下阵列光源固定设置在另一个灯板上;电源为探测器测试系统供电;各调光控制模块与阵列光源电连接,其中一个调光控制模块控制上阵列光源的亮度,另一个调光控制模块控制下阵列光源的亮度。本发明的探测器测试系统通过设置两个调光控制模块分别对上阵列光源和下阵列光源的发光进行独立调控,继而实现双面面阵感光阵列的测试。
技术关键词
探测器测试装置 调光控制模块 光源 电压测试模块 芯片 面阵感光阵列 测试方法 电路板 指示灯 电压表 电源 调光控制器 屏蔽板 箱体 灯板 亮度 像素点
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