一种人工智能芯片测试方法、装置及系统

本申请公开了一种人工智能芯片测试方法、装置及系统，涉及人工智能技术领域，包括：测试主机向人工智能芯片发送第一测试指令以及至少一个第一测试数据，第一测试指令用于指示人工智能芯片基于目标人工智能模型执行目标任务推理；测试主机将第一测试数据的发送时间记录为第一测试数据的推理起始时间，并响应于人工智能芯片返回的第一测试数据的推理结束信号，将推理结束信号的发出时间确定为第一测试数据的推理结束时间，基于各第一测试数据的推理起始时间和推理结束时间，确定该人工智能芯片的有效算力信息。本申请的方案能够较为准确地确定出人工智能芯片的有效算力情况。