集成电路芯片测试系统、方法、设备及介质

本申请公开了一种集成电路芯片测试系统、方法、设备及介质，主要涉及集成电路芯片技术领域，用以解决现有的‌集成电路芯片的故障检测涉及的方案‌：仅关注电流等单一环节的测试、仅通过初步测试确定合格，可能无法发现芯片在运行中的潜在风险的问题。包括：集合获得模块，用于对数据集进行聚类处理，获得若干个聚类集合；概率确定模块，用于确定当前聚类集合对应的实际故障概率；数据添加模块，用于基于待测集成电路芯片的芯片型号和具体的实测环节，确定对应的数据集；将待测集成电路芯片的实测数据添加至数据集中；异常检测模块，用于对当前数据集进行聚类处理，进而获取对应的实际故障概率。