芯片工艺角差异消除电路、方法及NAND闪存芯片

本发明公开了芯片工艺角差异消除电路、方法及NAND闪存芯片，涉及集成电路技术领域，包括输入信号放大模块、无损容值模拟模块、信号开关控制模块、等电势元件和时钟频率检测模块，所述输入信号放大模块放大输入端的电信号并对放大后的电信号进行传输，使被放大后的电信号被传输至分压元件上。本发明能够模拟被测模块中电容上的无损耗电流，消除了被测模块中电容本身具有的绝缘电阻引起的漏电流对测试电路的不良影响，同时能够消除漏电流对计算结果精度的影响，并使RC振荡器能够工作在慢角条件下，有利于提高PVT检测的独立性与高阻容振荡器PVT测试的检测准确性度，满足电容C在慢角条件下的测试进程。