基于改进YOLOv8n的轴承外圈表面缺陷检测方法

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基于改进YOLOv8n的轴承外圈表面缺陷检测方法
申请号:CN202411675553
申请日期:2024-11-21
公开号:CN119579553A
公开日期:2025-03-07
类型:发明专利
摘要
本发明基于改进YOLOv8n的轴承外圈表面缺陷检测方法属于目标检测领域;该方法依次执行以下步骤:步骤a、采集轴承外圈表面缺陷图像,所述缺陷包括凹槽、擦伤、划痕和污渍;步骤b、对所述轴承外圈表面缺陷图像进行预处理,并构建成完整的数据集;步骤c、改进YOLOv8n模型,引入注意力模块、采样模块和特征提取融合模块;步骤d、训练改进的YOLOv8n模型;步骤e、输出改进YOLOv8n最优模型;步骤f、测试改进YOLOv8n最优模型;实验结果表明:通过引入注意力机制,下采样模块以及特征提取融合模块,在提高检测精度的同时,降低了模型的复杂度,提高了运算速度,同时,还改善了模型识别复杂缺陷的能力。
技术关键词
轴承外圈表面 缺陷检测方法 采样模块 通道 图像 全局平均池化 检测轴承外圈 引入注意力机制 网络模型训练 网络结构 模型预训练 实验室条件 椒盐噪声 缺陷类别 标注工具 特征值 模块结构 拼接模块
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