一种电容芯片的生产工艺

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一种电容芯片的生产工艺
申请号:CN202411678250
申请日期:2024-11-22
公开号:CN119584554A
公开日期:2025-03-07
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种电容芯片的生产工艺,该工艺通过刻蚀硅衬底形成瓶状沟槽结构,在沟槽中通过沉积硅晶粒、离子注入、形成中间介质层、刻蚀中间介质层和沉积导电层的步骤,形成具有凸起形状的上电极和下电极;在相邻三个沟槽电容之间的空隙进行孔刻蚀、沉积散热绝缘材料形成散热隔离结构。本发明通过两次刻蚀工艺形成瓶状沟槽,结合电极的凸起结构,进一步提高芯片电容值;另外本发明通过形成散热隔离结构,提高芯片集成密度,改善电容芯片的散热性能,同时进一步改善电容之间的电绝缘性能。
技术关键词
沟槽式电容 散热绝缘材料 芯片 上电极 沉积氧化硅层 介电层 氮化硅层 隔离结构 磷掺杂 沟槽电容 半球形 刻蚀气体 沟槽结构 介质 沉积硅 凹陷结构 刻蚀工艺
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