一种激光切制片缺陷图像检测方法及装置

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一种激光切制片缺陷图像检测方法及装置
申请号:CN202411682843
申请日期:2024-11-22
公开号:CN119600354A
公开日期:2025-03-11
类型:发明专利
摘要
本公开涉及图像检测技术领域,特别涉及一种激光切制片缺陷图像检测方法及装置。本公开提出的利用SSD‑GCN模型能够同时充分利用时空特征和序列依赖性,从而更全面地理解激光制片缺陷图像检测的演变规律。整个模型的深度使得系统能够逐层抽象输入数据的特征,从而更好地捕捉缺陷图像识别任务中的抽象和复杂关系。通过整合SSD和GCN网络,提供了一种更全面、更准确检测制片缺陷图像的技术方案,对电池生产和应用领域具有重要的推动作用。
技术关键词
GCN模型 图像检测方法 激光 数据处理单元 识别缺陷 缺陷图像识别 训练检测器 图像检测技术 图像检测装置 误差反向传播 通信接口 参数 存储器 处理器 样本 优化器 可读存储介质 模块
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