一种芯片谐振电容的测试方法

本发明公开了一种芯片谐振电容的测试方法，该方法包括：获取RC电路中测试电阻的电阻值和测试电容的电容值在不同的预设值时测试电容充电至预设电压的第一时间；在RC电路的输出端接入预设电容后，获取测试电阻的电阻值和测试电容的电容值在不同的预设值时预设电容充电至预设电压的第二时间；根据预设电容的实际电容值、第一时间和第二时间确定测试电阻的匹配电阻值和测试电容的匹配电容值；在根据匹配电阻值和匹配电容值匹配RC电路的测试电阻和测试电容后，基于匹配的RC电路测试待测芯片的谐振电容。实现了芯片谐振电容的测试，提高了测试的准确性，测试成本低。