MEMS惯导设备批量测试方法、测试系统及测试装置

本发明涉及MEMS惯导设备测试技术领域，提供一种MEMS惯导设备批量测试方法、测试系统及测试装置，方法包括：将多套待测MEMS惯导设备与测试板相连；采集输出数据获得测试数据；对测试数据进行预处理，获得初始判断数据；对初始判断数据进行异常数据判断，并根据判断结果进行异常数据剔除，获得过程判断数据；通过对过程判断数据进行滤波处理，获得滤波判断数据；根据惯性器件的标定情况设置阈值，根据阈值以及滤波判断数据判断待测MEMS惯导设备的工作情况。本发明实现MEMS惯导设备批量化测试，操作简单，具有极大的灵活性和方便性，减小了由于安装应力以及温度变化产生的误差对测试的影响，测试结果更加准确。