一种重叠期间校验方法、系统、电子设备和存储介质

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一种重叠期间校验方法、系统、电子设备和存储介质
申请号:CN202411692684
申请日期:2024-11-25
公开号:CN119645301A
公开日期:2025-03-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及数据处理技术领域,具体公开一种重叠期间校验方法、系统、电子设备和存储介质,该方法包括:确定目标请求参数对应的至少一个规则标识,并判断所述目标请求参数在任一规则标识下的请求期间数据与所述任一规则标识下的历史期间数据之间的重叠期间计算结果值是否超过该规则标识对应的预设值,得到所述任一规则标识对应的判断结果;当所述任一规则标识对应的判断结果为否时,判定所述目标请求参数在所述任一规则标识下的请求期间数据通过重叠期间校验,并将所述目标请求参数在所述任一规则标识下的请求期间数据进行存储。本发明通过优化重叠期间的计算实现,提高了重叠期间校验的效率。
技术关键词
标识 校验方法 国密SM4算法 参数 校验模块 校验系统 电子设备 可读存储介质 扫描线算法 数据处理技术 处理器 对象 计算机 存储器
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