用于存储芯片检测的插入测试机构

本发明提供了一种用于存储芯片检测的插入测试机构，包括：输送组件、收集组件和驱动组件，输送组件由平台和顶板，收集组件设置在输送组件下方，收集组件顶部固定安装有立板，顶板顶部固定连接有检测模块，且检测模块与平台表面的芯片主体对应分布，驱动组件底端分别固定安装有清洗模块和干燥组件。本发明可实现芯片的快速压紧固定，并确保后续插入测试的准确性，可转动的旋转板实现与接口的准确贴合，并通过其内部的扁平管进行清洗液的排出，调节扁平管的位置以及利用凸起的设置实现接口内壁的高效清洗，旋转管的转动可实现清洗后续的干燥处理，并通过从不同角度进行热空气输送，再在清洗后实现插入测试，实现老旧储存芯片的快速检测。